现代农作物生产的一个严重问题是种子材料的质量:隐藏的损坏可能导致产量下降。 在这方面,在播种或储存前评估种子的质量具有很大的实际意义。 当前的农业发展水平需要使用自动化、准确的方法来评估种子质量,从而可以在短时间内获得最大量的信息。
是以圣彼得堡国立电子技术大学“LETI”命名的。 在和。 乌里扬诺夫(列宁)开发了一种微焦点 X 射线计算机断层扫描仪,在俄罗斯还没有类似的设备,它可以获取种子的三维图像,以识别种子材料中的微观缺陷。 这是网站上报道的 大学.
“在我们大学的基础上,开发出了微焦点X射线计算机断层扫描仪,这使得获得断层图像,即高分辨率三维图像——可识别结构的最小尺寸为几微米(一微米是千分之一毫米)。 因此,可以高精度地对各种物体进行研究和诊断:从考古文物到电子元件。 圣彼得堡 EPU 系副教授维克托·鲍里索维奇·贝索诺夫 (Viktor Borisovich Bessonov) 评论道:“该断层扫描仪样本将于今年年底交付给尼基茨基植物园,在它的帮助下,研究植物种子的缺陷成为可能。”国立电子技术大学“LETI”。
研究人员指出,所开发的断层扫描仪在许多特性上都优于现有的国外同类产品。 因此,LETI 创建的 X 射线源可以实现非常高分辨率和高穿透力 - 这意味着与当今市场上其他类似断层扫描仪相比,该断层扫描仪可以扫描更大体积的物体。
当对单个种子进行精确研究以及随后将种子的断层图与其生长潜力进行比较并预测田间发芽时,该装置特别有意义。 种子在微焦点 X 射线断层扫描仪上拍照后,完全保留其活力,这在评估来自 VIR(全俄罗斯植物生长和区域品种站点)世界收藏的品种样品和杂交种的质量时尤其必要。
该断层扫描仪由安装在特殊室中的 X 射线源组成,用于研究的样品放置在该室中。 信息处理是使用 LETI 开发的软件进行的。 它允许您可视化和重建有关所研究对象的数据。 该装置由国内生产的部件组装而成。
计算机断层扫描仪的开发是圣彼得堡电子技术大学“LETI”电子仪器和设备系的大范围工作项目之一,旨在创建微焦点系统(设备、软件和使用方法)用于物体高精度快速诊断的放射线照相术,以提高俄罗斯农作物生产的质量和生产力。 这方面的工作正在电子控制部门负责人尼古拉·尼古拉耶维奇·波特拉霍夫(Nikolai Nikolaevich Potrakhov)的领导下进行。
因此,2021 年,EPU 部门的员工与农业物理研究所(AFI,圣彼得堡)的专家一起创建了新一代移动 X 射线和 X 射线断层扫描综合设备,用于种子的快速诊断,以及作为它们的使用方法。 安装的工作样本已移交给 API 工作人员进行研究。
此外,2022 年,LETI 和联邦蔬菜种植科学中心(莫斯科)的一个科学小组开发了一种利用射线照相技术识别蔬菜种子缺陷的方法。 从长远来看,LETI 研究人员与各个科学组织一起计划创建方法来识别所有经济上重要的植物物种的种子材料缺陷。
特别值得一提的是,来自AFI和圣彼得堡电子技术大学“LETI”的科学家小组在米哈伊尔·瓦季莫维奇·阿尔希波夫教授的领导下,制定了国家标准GOST R59603-2021《农业种子》。 数字放射线摄影方法”。 该文件于1年2022月XNUMX日生效。 它旨在刺激国内种子基地的发展,确保俄罗斯工业种子生产的可持续增长,并减少俄罗斯农业生产者对外国供应商的依赖。