对于作物胁迫的早期迹象,例如干旱,可以通过检查根系来获得。 但是为了正确地研究根,通常需要损坏植物。 来自国家实验室的美国科学家。 伯克利(加利福尼亚州)的劳伦斯开发了一种特殊的传感器装置,用于研究植物的根系特征,可以在不伤害植物本身的情况下获取有关根系的信息。
我们谈论的是根际断层扫描电子扫描仪 (TERI)。 该设备可以收集有关根部特征(长度、质量和直径)的数据。 创新的传感器传感器通过向植物茎部发送少量电流来工作。 该传感器通过非侵入式感应根部和土壤的电响应,提供有关根部所需特性的信息。
到目前为止,该技术已经在大豆和玉米上进行了测试。 排队买土豆。 这种方法可以帮助科学家从全新的角度看待作物生产。